Применение конфокальных микроскопов фирмы Nanofocus

advertisement
Применение конфокальных
микроскопов фирмы Nanofocus
(Германия) в судебных
экспертизах
Официальный представитель фирмы NanoFocus AG в России и странах СНГ ООО «Лек-Инструментс»,
124482 Москва, Зеленоград, Савелкинский проезд, дом 4, офис 1213
Тел.: +7(495) 730-64 -70 или -71
email:sam@lec-instruments.ru
www.lec-instruments.ru
Конфокальный микроскоп
Термин
“конфокальный”
означает
“софокусный.” Конфокальные микроскопы в
отличие от обычных имеют очень высокое
разрешение (до 1 нм) вдоль оптической оси
объектива (ось Z), которое достигается за
счет использования принципа конфокальной
фильтрации отраженных от образца лучей.
Результаты
сканирования
поверхности
передаются в компьютер, который формирует
изображение и выводит его на экран
монитора. Мощное программное обеспечение
позволяет не только оцифровать объект в
системе x-y-z координат, но сразу же
визуализировать его как 3D-объект. При этом
цифровая модель объекта может быть
сохранена
и
задокументирована
на
компьютере и в дальнейшем вызвана для
обработки или сравнения.
Скорость получения информации об объекте
составляет несколько секунд.
Применение прибора: Судебная экспертиза
От предметов искусства до
инструментов преступления
Инструменты, используемые преступниками,
оставляют
множество
следов,
криминологическая применимость которых
сопоставима с отпечатками пальцев, Часто
такие следы позволяют точно сопоставить
инструмент и объект преступления. С
использованием трехмерной технологи µsurf
есть возможность точного определения
микроструктуры и
ее занесения в базу
данных. Известные полицейские власти,
такие как ФБР и их немецкие коллеги ВКА
успешно используют µsurf системы для
сравнительных
экспертиз
криминалистических объектов. Технология
NanoFocus также используется во всем мире
для установления подлинности предметов
искусства.
Применение прибора: Судебная экспертиза
Инструмент преступления
Сравнивая следы, созданные в
лаборатории с оригинальными
следами (техника корреляции),
инструмент преступления может
быть
установлен
и
правонарушение раскрыто.
Сравнение следов(слева) и инструмента преступления(справа)
Применение прибора: Судебная экспертиза
Предметы искусства
Микроструктура
мазков
на
картинах также уникальна как и
отпечатки пальцев. В отличие от
длительных
лабораторных
исследований, которые используют
повреждающие картины методики,
технология
µsurf
позволяет
идентифицировать полотно быстро
и точно.
Применение прибора: Судебная экспертиза
Баллистика
Сигнатура
стрелянного
снаряда
состоит из множества сверхтонких
отпечатков. Они формируются при
стрельбе из оружия. Сравнение
лабораторных образцов и найденных
на месте преступления может
помочь в идентификации оружия.
Применение прибора: Судебная экспертиза
Взрывчатые вещества
Технология µsurf позволяет сравнивать
характерные признаки поверхности,
возникающие
при
производстве
взрывчатых веществ. Сопоставление
известных поверхностей с объектом
исследования
может
помочь
установить происхождение материала.
Преимущества метода
ƒ бесконтактный
ƒ надежный
ƒ большой угол наклона боковых граней
ƒ высокая точность
ƒ высокое разрешение
ƒ высокий динамический диапазон
ƒ высокая скорость измерения
ƒ модуль сшивания изображений
Прибор линии µsurf ® в сравнении с тактильным
методом
Абсолютная корреляция
KKF = 99% *
Тактильный метод
µsurf®
* ) Источник:
Национальный Институт Стандартов и Технологии, США, 2005
Прибор линии µsurf ® в сравнении со
сканирующей электронной микроскопией
Количественный 3D-анализ
Сравнение конфокальных изображений, и
полученных при помощи сканирующего
электронного микроскопа показывает
хорошее визуальное соответствие
результатов. Однако данные, полученные
с помощью конфокального микроскопа
содержат еще и численные значения
топографии поверхности.
Сканирующая электронная
микроскопия
µsurf®
Базовый принцип конфокального метода
in focus
Не в фокусе
В фокусе
Не в фокусе
NanoFocus AG
Базовый принцип конфокального метода
in focus
3D
изображение
NanoFocus AG
Контакты:
Официальный
представитель фирмы
NanoFocus AG в России и
странах СНГ
ООО «Лек-Инструментс»,
124482 Москва, Зеленоград,
Савелкинский проезд, дом 4,
Офис 1213
Тел.: +7(495)730-64-70
eMail sam@lec-instruments.ru
web www.lec-instruments.ru
Download