ОТРАЖЕНИЕ ПОЛЯРИЗОВАННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ СРЕДАМИ С

ОТРАЖЕНИЕ ПОЛЯРИЗОВАННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ СРЕДАМИ
С МНОГОКРАТНЫМ РАССЕЯНИЕМ
И. В. Вощула, В. А. Длугунович, А. Ю. Жумарь, О. В. Царюк
Институт физики им. Б. И. Степанова НАН Беларуси, Минск
Исследовано изменение степени поляризации P(θ) излучения, отраженного в зеркальном направлении терморегулирующими покрытиями
(белыми, черными и серебристой красками), нанесенными на алюминий,
а также полимерными композитными материалами (фенольным пластиком, покрытым краской зеленого цвета, и углепластиком без покрытия),
при освещении их под разными углами линейно поляризованным излучением He-Ne лазера. Определены двунаправленные коэффициенты зеркального отражения поверхности исследованных материалов R(θ)P(θ),
учитывающие лишь поляризованную компоненту отраженного излучения. Зондирующее излучение при длине волны 0,63 мкм было поляризовано в плоскости падения, либо в ортогональной ей плоскости.
Установлено, что при освещении углепластика, серебристого и черных покрытий излучением, поляризованным ортогонально плоскости падения, степень поляризации отраженного излучения не зависит от угла
падения и составляет 0,99-1,0. В этих же условиях увеличение угла падения от 5° до 75° приводит к монотонному увеличению степени поляризации излучения, отраженного белыми покрытиями, а также фенольным
пластиком, окрашенным зеленой краской, от 0,7 и 0,08-0,1 (для зеленого
и белых покрытий соответственно) до 0,90-0,98.
При освещении исследуемых материалов излучением, поляризованным в плоскости падения, характер изменения степени поляризации отраженного излучения отличается. Установлено существование минимальных значений степени поляризации излучения Pmin(θ), отраженного
исследованными образцами. Значения Pmin(θ) изменяются от 0,9 (серебристое и черные покрытия) до 0,5 (углепластик), 0,3 (фенольный пластик, окрашенный зеленой краской) и 0,03 (белые покрытия).
Полученные зависимости объясняются различным соотношением интенсивностей поляризованной компоненты излучения, отраженного поверхностью материалов, и деполяризованной компоненты, вышедшей из
объема материала после многократного рассеянии. Используя отношение
R||(θ)P||(θ)]/R⊥(θ)P⊥(θ) определены значения показателя преломления n и
главного показателя поглощения κ исследованных материалов. Показано,
что данная методика применима для определения с удовлетворительной
точностью значений n и k лишь поглощающих и мало деполяризующих
отраженное излучение материалов.
20