Спектральные методы исследования и анализа материалов ПРАКТИКА

Спектральные методы исследования и анализа материалов
ПРАКТИКА
Контрольные вопросы
1.
2.
3.
4.
5.
6.
7.
8.
9.
10.
11.
12.
13.
14.
15.
16.
17.
18.
19.
20.
21.
22.
23.
24.
25.
26.
27.
28.
29.
30.
31.
32.
33.
34.
35.
Каков порядок следования энергетических уровней в атоме.
Каково наибольшее число электронов на уровнях s, p, d, f ?
На кое число подуровней будут расщепляться во внешнем магнитном поле уровни s, p, d?
Что понимается под оптическим электроном?
Какие линии в спектре атома (иона) будут иметь наибольшую интенсивность?
Какие линии называют «последними»?
Какие линии в спектрах называют резонансными?
От чего зависит потенциал ионизации атомов? Как меняется потенциал ионизации в
периодической системе?
Почему у редкоземельных элементов химические свойства близки, а различия в спектрах
достаточно велики?
Почему происходит самопоглощение и самообращение спектральных линий?
Как зависит интенсивность спектральной линии при условии однократной ионизации от
условий испарения атомизации?
Как зависит интенсивность спектральной линии от температуры?
Какие линии называют гомологическими?
Чем определяется рабочая область спектрального прибора?
От каких параметров спектрального аппарата зависит линейная дисперсия?
Как принято характеризовать линейную дисперсию спектральных аппаратов?
Насколько изменится линейная дисперсия, при увеличении фокусного расстояния
объектива в 5 раз?
Как можно измерить линейную дисперсию спектрального аппарата?
Как зависит линейная дисперсия призменного спектрального прибора от длины волны?
Как зависит линейная дисперсия дифракционного спектрального прибора от длины
волны?
Угловая дисперсия призмы.
Угловая дисперсия дифракционной решетки.
. Как определяется увеличение спектрального аппарата?
Чем определяются размеры действующего отверстия спектрального аппарата?
Что такое относительное отверстие?
Почему происходит искривление спектральных линий в призменных спектральных
приборах?
Как определить геометрическую ширину спектральной линии в приборе?
Как связаны спектральная и геометрическая ширина щели?
Чем определяется дифракционная ширина щели?
Чему равна нормальная ширина щели.
От каких параметров зависит разрешающая способность спектрального аппарата?
От каких параметров зависит разрешающая способность дифракционного спектрального
прибора?
Чему пропорциональна светосила спектрального аппарата по полному световому потоку?
Чем определяется светосила спектрального аппарата по освещенности?
При каких условиях достигается наибольшая чувствительность анализа и разрешающая
способность?
Спектральные методы исследования и анализа материалов
ПРАКТИКА
36.
37.
38.
39.
При каких условиях весь объектив коллиматора будет заполнен светом?
На какое расстояние нужно установить источник для устранения виньетирования?
В каких случаях можно использовать непосредственное освещение щели источником?
Каково должно быть расстояние источника света до щели при освещении с помощью
конденсоров?
40. Каков алгоритм идентификации спектральных линий?
41. Какие существуют методы разделения сложных спектров на элементарные полосы?