Современные методы исследований при создании новых

Современные методы исследований при создании
новых функциональных материалов и наноструктур
V Всероссийская научно-практическая конференция
«Принципы и механизмы формирования национальной инновационной системы в Российской Федерации»
1-2 октября 2014, г. Дубна
Лаборатория
«Системы для микроскопии и анализа»
•
•
•
Лаборатория применения основана в 2006 году
Центр коллективного пользования «Микроанализ»
технопарка Сколково
Испытательная лаборатория системы добровольной
сертификации продукции «Наносертифика»
Лаборатория
применения
Двухлучевая
аналитическая
система
(Life science)
Конфокальный
микроскоп
Просвечивающий
микроскоп
(материаловедение)
Анализатор
частиц
Просвечивающий
микроскоп
(Life science)
Двухлучевая
аналитическая
система
(материаловедение)
Рентгеновский
микротомограф
Фотоэлектронный
спектрометр
Рентгенофлуоресцентный
анализатор
Система
пробоподготовки
Пример мультимасштабного исследования
2 мкм
75 мкм
Пористый фильтр.
МГУ им. Н.В.Ломоносова.
Геологический факультет.
20 нм
Кристаллическая структура
100 мкм
Макромодель
Объемная модель
200 нм
Структура материала при высоком разрешении
5 мкм
Поперечный срез приповерхностного слоя
Рентгеновская объёмная микроскопия
Композит на основе углеродных волокон
Лазерный модуль с
полупроводниковым кристаллом.
НПО Полюс.
•
•
•
•
Суперпроводящий кабель.
ВНИИНМ.
Исследование внутренней структуры образца без его разрушения
Построение 3D моделей объектов с разрешением до 1 мкм
Работа с образцами размерами от нескольких миллиметров до десятков сантиметров
Без предварительной пробоподготовки
Растровая электронная микроскопия
высокого разрешения
Нанопористые мембраны.
МГТУ им Н.Э.Баумана
Композиционные материалы.
Воронежский
государственный
Влажный гидрогель
технический университет
Керамика.
ФГБОУ ВПО «МГИУ».
Порошок металла
•6 Микроскопия поверхности с увеличением до х1000000
• Исследование любых типов образцов (диэлектрики, влажные, газящие, загрязнённые и т.д.)
Растровая электронная микроскопия
высокого разрешения
Косметическая наноэмульсия.
«Королевфарм»
Работа с эмульсиями и биообразцами
Сочетание электронной и ионной микроскопии
обеспечивает:
Исследование
подповерхностных слоев с
помощью поперечных сечений
Срез частицы порошка сложного состава.
ИМЕТ им А.А.Байкова
Модифицированный подповерхностный слой.
Оптогард.
Сочетание электронной и ионной микроскопии
обеспечивает:
МГТУ МИРЭА.
Реконструкцию
внутренней структуры
объекта на наноуровне
1. Объект исследований
2. Получение серии изображений
при послойном травлении
4. Результат
3. Обработка и реконструкция 3D
объекта из серии 2D снимков
Сочетание электронной и ионной микроскопии
обеспечивает:
Подготовку образцов для
структурных исследований
с высоким разрешением
Высокопрочная керамика.
ФГБОУ ВПО «МГИУ»
Спектроскопия
Сверхпроводник.
ВНИИНМ.
Картирование по поверхности
3D реконструкция состава
•
•
•11
Определение качественного и количественного
элементного состава в точке
Построение карт распределений элементов по
поверхности и на срезе
Трехмерная реконструкция состава
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
Керамика на основе
оксида циркония
Углеродные волокна
•
•
•
Работа с ультратонкими гетероструктурами
Субнанометровая точность
Анализ химических связей
Анализ частиц
•
•
•
•
Анализ порошков, гелей, эмульсий, аэрозолей с размером частиц в
диапазоне от 0.1 до 3600 мкм
Построение распределения частиц по размерам
Распознавание формы и определение концентрации в одном
процессе
Результаты не зависят от физических и оптических свойств частиц
и среды
Обработка полученных результатов
Анализ течения жидкости
Плата.
ООО Топкон.
ТВЭЛ.
Реконструкция капилляров
НИЯУ МИФИ.
кости
• Реконструкция объемных
образцов
• Анализ скрытых дефектов,
пор, включений
• Расчет внутренней
поверхности, объема.
Катализатор
ТВЭЛ.
НИЯУ МИФИ.
Удаленный доступ к оборудованию
Зайти на сайт
Выбрать оборудование
15
Начать работу
Комплексный подход
к решению Ваших задач
•
•
•
•
•
От идеи к методике
От образца к результату
От технического задания к отчёту
От создания прототипа к производству
От аренды оборудования к
собственной лаборатории “под ключ”
Анастасия Шилова
Системы для микроскопии и анализа
143025, Московская обл., Одинцовский район, дер. Сколково,
ул.Новая, д.100, здание БЦ Урал.
Тел. +7 495 540 46 17
+7 495 933 43 17
www.microscop.ru
e-mail: shilova@microscop.ru