В.А.Злобин
advertisement
НАУЧНЫЙ СОВЕТ РАН ПО ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ НАУКИ ИНСТИТУТ ПРОБЛЕМ ТЕХНОЛОГИИ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ И ОСОБОЧИСТЫХ МАТЕРИАЛОВ РОССИЙСОЙ АКАДЕМИИ НАУК (ИПТМ РАН) ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ НАУКИ ИНСТИТУТ КРИСТАЛЛОГРАФИИ ИМ. А.В. ШУБНИКОВА РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК (ИК РАН) ПРОГРАММА XVIII РОССИЙСКОГО СИМПОЗИУМА ПО РАСТРОВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ И АНАЛИТИЧЕСКИМ МЕТОДАМ ИССЛЕДОВАНИЯ ТВЕРДЫХ ТЕЛ РЭМ - 2013 г. Черноголовка, 3 – 7 июня 2013г. Научно – образовательные лекции для молодых учёных в рамках XVIII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твёрдых тел (РЭМ-2013) г. Черноголовка Организаторы Научный совет РАН по электронной микроскопии ФГБУН Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН ФГБУН Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН 3 июня, понедельник 14.00 – 18.00 Вступительное слово: А.Л. Васильев Е.Б. Якимов «Новые методы в просвечивающей электронной микроскопии» Васильев Александр Леонидович зав. лаб. электронной микроскопии, НИЦ «Курчатовский институт» «Методы сканирующей зондовой микроскопии и их применение для исследования наномасштабных свойств поверхности и тонкопленочных структур» Миронов Виктор Леонидович д-р физ.-мат. наук, Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород Перерыв 20 мин «Методы растровой электронной микроскопии и их применение» Якимов Евгений Борисович д-р физ.-мат. наук, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, г. Черноголовка, Московская обл. «3D Morphological and Elemental Analysis of Interconnect Materials using a DualBeam» B. Van Leer FEI Company, 5350 NE Dawson Creek Drive, Hillsboro, OR 4 июня, вторник Утро 10.00 – 14.00 Открытие конференции Вступительное слово: Н.А. Киселёв В.А. Тулин Пленарные доклады А.П. Володин Нетрадиционные применения зондовой микроскопии для изучения углеродных наноструктур 30 мин. А.А. Бухараев Сканирующая зондовая нанолитография 30 мин. А.Н. Титков Изучение методами электростатической силовой микроскопии распределений электрических полей и зарядов в приборах микронаноэлектроники 30 мин. Перерыв 20 мин. Устные доклады Н.И. Боргардт, Р.Л. Волков, А.А. Маляров, А.С. Приходько, А.В. Румянцев Применение метода фокусированного ионного пучка для модификации и исследования материалов 20 мин. А.А. Михуткин, И.А. Каратеев, А.Л. Васильев Трехмерная реконструкция объектов, исследованных методами растровой электронной и электронно-ионной микроскопии 20 мин. В.В. Казьмирук, И.Г. Курганов, Т.Н. Савицкая Оптимизация сверхнизковольтного режима РЭМ 20 мин. Обед 14.00 – 15.00 Продолжение 15.00 – 15.50 В.П. Пронин, В.А. Полищук, А.С. Лосев, А.Г. Канарейкин Формирование изображения в растровой электронной микроскопии в режиме анализа интенсивностей потоков упруго отраженных электронов 20 мин. Д.П. Бернацкий, В.Г. Павлов Tочечные полевые эмиттеры электронов и ионов 20 мин. Продолжение 15.50 – 19.00 Информационные сообщения представителей фирм о новых разработках диагностического и измерительного оборудования Стендовая сессия для секций I, II, IV Вечер встречи с 17.30 до 19.00 19.30 5 июня, среда Утро 9.30 – 14.00 Устные доклады П.С. Вергелес, Е.Б. Якимов, А.Я. Поляков Влияние облучения на оптические свойства наностолбиков c МКЯ InGaN/GaN 20 мин. В.Г. Еременко Применение методов сканирующей электронной и зондовой микроскопии в сочетании с оптической микроскопией и химическим травлением при анализе структуры и свойств дефектов в полупроводниковых кристаллах 20 мин. Г.С. Жданов, А.Д. Манухова Управление динамикой роста углеродных наноострий на подложках, облучаемых сфокусированным пучком электронов 20 мин. И.Г. Григоров, Б.А. Логинов, Л.Н. Ромашев, Ю.Г. Зайнулин О формировании 2D- и 3D-изображений поверхности в сканирующей микроскопии 20 мин. Перерыв 20 мин. Р.З. Бахтизин, А.И. Орешкин Сканирующая туннельная микроскопия фторированных фуллеренов на поверхности кремния 20 мин. А.А. Саранин, А.В. Зотов, Д.В. Грузнев, А.В. Матецкий, Л.Н. Бондаренко Адсорбция фуллеренов C60 на реконструированных поверхностях кремния 20 мин. А.В. Огнев, А.С. Самардак, Е.В. Суковатицина, М.Е. Стеблий, А.Г. Козлов, Е.Б. Модин, Е.В. Пустовалов, Л.А. Чеботкевич, В.С. Плотников, F. Nasirpouri Изменение микромагнитной структуры ферромагнитных нанопроволок направленными деформациями 20 мин. А.Г. Темирязев, С.А. Саунин Использование нестандартных методов сканирования для расширения круга задач, решаемых с помощью атомно-силовой микроскопии 20 мин. М.С. Дунаевский, П.А. Алексеев, А.М. Монахов, A. Baranov, P. Girard, R. Teissier, А.Н. Титков Визуализация пространственных мод излучения полудискового лазера с модой шепчущей галереи методами зондовой микроскопии 20 мин. Обед 14.00 – 15.00 15.00 – 16.00 Стендовая сессия для секции III 16.00 – 18.00 Экскурсии в ИПТМ РАН и ИФТТ РАН 6 июня, четверг Утро 9.30 – 14.00 Устные доклады М.А. Князев, Э.И. Рау, А.А. Свинцов, А.А. Татаринцев, С.И. Зайцев Отклонение электронного пучка, вызванное зарядкой диэлектрических пленок на проводящей подложке 20 мин. В.Ю. Михайловский, Ю.В. Петров, О.Ф. Вывенко Применение энергетической фильтрации электронов методом задерживающего потенциала в растровой электронной и ионной микроскопии 20 мин. В.А.Злобин Определение глубины залегания шунтированных p-n переходов в высоковольтных кремниевых приборах методом наведенного тока 20 мин. Ю.Я. Томашпольский, В.М. Матюк, Н.В. Садовская Термостимулирующая поверхностная авто-и гетеросегрегация: ВРЭМ, АСМ, ОЦП, РСМА, ОЭС, КВС, ИКС 20 мин. В.В. Мокрушин, И.А. Царева, М.В. Царев Калибровка размеров объектов с помощью измерений по их электронномикроскопическим изображениям 20 мин. Перерыв 20 мин. Е.Б. Модин, О.В. Войтенко, Е.В. Пустовалов, В.С. Плотников, Б.Н. Грудин, А.В. Дубинец Исследование структуры нанопроводов Ni методом t-EBSD 15 мин. В.В. Хорошилов, В.Г. Дюков, Е.Н. Евстафьева, В.А. Стебельков, А.А. Татаринцев, Рентгеновский микроанализ частиц из диоксида урана при низкой энергии электронов зонда 20 мин. В.А. Стебельков, В.Г. Дюков, В.В. Хорошилов Оценка степени окисления урана в микрочастицах с помощью растрового электронного микроскопа в режиме обратно рассеянных электронов 20 мин. Д.С. Белов, И.В. Блинков, А.О. Волхонский, Н.Ю. Табачкова, А.В. Ершова, Е.С. Фёдорова, В.А. Черезова Структуро- и фазообразование при получении нанокристаллиеских покрытий Ti-N-Cu, Ti-N-Ni 20 мин. О.Е. Корнейчик, С.Н. Седов Алгоритмы автоматизации сбора и обработки данных СЭМ для смешанной датировки природных и рукотворных объектов 20 мин. Стендовая сессия для секции VII (био) 11.00 – 13.00 Обед 14.00 – 15.00 Обед для секции VII (био) 13.00 – 14.30 Стендовая сессия для секций V, VI 15.30 – 18.00 Устные доклады VII секции (био) 14.30 – 18.00 Е.В. Киселева Особенности приготовления препаратов для высокоразрешающей сканирующей электронной микроскопии 30 мин. Д.В. Клинов Визуализация бионаноструктур методом сканирующей зондовой микроскопии 30 мин. И.А. Няпшаев, А.В. Анкудинов, В.И. Чубинский - Надеждин Исследования механических свойств индивидуальных биологических клеток методами атомно-силовой микроскопии 30 мин. Перерыв 20 мин. Д.В. Уткин, О.С. Кузнецов, П.С. Ерохин, О.А. Волох, С.Н. Клюева, Е.М. Кузнецова, Т.Н. Щуковская, Н.А. Осина, С.А. Щербакова Лабораторная диагностика и характеристика возбудителей особо опасных инфекционных болезней с применением методов атомно-силовой микроскопии 30 мин. В.Г. Жуховицкий, Н.В. Шевлягина, Н.Д. Константинова, Л.В. Диденко Морфологическая характеристика клинических изолятов Helicobacter pylori и их взаимодействия со слизистой оболочкой желудка по данным сканирующей и трансмиссионной электронной микроскопии 30 мин. Маттиас Ф. Лангхорст, Алевтина Якушевска, Бен Лич, Дмитрий Плешков Разработка метода корреляционной оптической и просвечивающей электронной микроскопии. Апробация метода на различных типах биологических объектов 30 мин. Стендовая сессия для секций V, VI 7 июня, пятница 15.30 – 18.00 Утро 9.30 – 14.00 А.Н. Грузинцев, С.В. Зайцев, А. Дулина, Ю.В. Ермолаева, А.С. Бескровный, А.В. Толмачев, И.И. Зверькова, Е.А. Кудренко, И.И. Ходос, Г.А. Емельченко Морфология и эффекты размерного квантования фотонных состояний в сферических нанокристаллах Y2O3 –Eu3+, ZnO 20 мин. О.В. Кононенко, С.И. Божко, В.Н. Матвеев, В.И. Левашов, М.А. Князев, В.Т. Волков Измерение поля иглы магнитного кантилевера с помощью наноразмерного датчика экстраординарного эффекта Холла 20 мин. Т.Е. Суханова, М.П. Соколова, А.А. Кутин, Г.Н. Губанова, Н.Н. Сапрыкина, А.В. Теньковцев РЭМ исследование морфологии ионогенных полипсевдоротаксанов 20 мин. В.В. Клечковская, А.С. Орехов, Ю.Г. Баклагина, С.В. Кононова, В.А. Петрова, Е.В. Кручинина Исследование мультислойных полиэлектролитных композитов методами РЭМ и ЭДРМА 20 мин. Перерыв 20 мин. М.Ш. Акчурин, В.Г. Галстян, Р.В. Гайнутдинов, Р.М. Закалюкин, А.А. Каминский Механизмы зародышеобразования при механосинтезе сложных оксидов 20 мин. А.С. Орехов, Е.И. Суворова Высокоразрешающая просвечивающая и сканирующая просвечивающая электронная микроскопия для исследования структуры границы раздела Mn4Si7/Mn5Si3 20 мин. В.Г. Бешенков, А.Ф. Вяткин, В.В. Амеличев, Д.В. Костюк Нахождение профилей распределения элементов по глубине в тонкопленочных структурах при перекрывании оже-пиков элементов 20 мин. Н.А. Никифорова, Н.Н. Михеев, М.А. Степович, M. Hocker, K. Thonke, I. Tischer Измерение диффузионной длины и времени жизни неосновных носителей заряда в нитриде галлия методом катодолюминесцентной микроскопии при различных условиях возбуждения люминесценции 20 мин. Закрытие Симпозиума СТЕНДОВЫЕ СООБЩЕНИЯ 4 июня, вторник Вечер 17.30 – 19.00 Секция I. Новые методы, приборы и электронная оптика, растровая просвечивающая микроскопия Т.А. Алехова, Т.Ю. Новожилова, Н.А. Загустина, А.Д. Плотников, Д.Р. Стрельцов, А.Л. Васильев Исследование морфологии биокоррозионных повреждений методом РЭМ с помощью реплик нового типа В.А. Альзоба, В.П. Гавриленко, В.Б. Митюхляев, А.В. Раков, П.А. Тодуа, М.Н. Филиппов Оптимизация режимов плазменной очистки для удаления углеводородных загрязнений С.М. Аракелян, Д.С. Ногтев Способ улучшения качества получения получаемого РЭМ изображения проводящих материалов А.С. Бондаренко, С.А. Гусев, Б.А. Грибков, Е.В. Скороходов Анализ кристаллической и магнитной структуры ферромагнитных пленок В.В. Казьмирук, Н.Н. Осипов, А.А. Подкопаев Изучение особенностей формирования контраста сигналов в низковольтном и сверхнизковольтном режимах РЭМ В.В. Казьмирук, И.Г. Курганов, Н.Н. Осипов, А.А. Подкопаев, Т.Н. Савицкая Исследование формирования вторично-эмиссионного сигнала при низковольтном режиме работы РЭМ В.В. Казьмирук, И.Г. Курганов, Т.Н. Савицкая Влияние электромагнитных наводок при низковольтных режимах РЭМ В.В. Казьмирук, И.Г. Курганов, Т.Н. Савицкая Расчет и разработка конструкции детекторов ВЭ и ОРЭ для низковольтного РЭМ В.В. Казьмирук, И.Г. Курганов, Т.Н. Савицкая Исследование вариации дозы облучения при диагностике и литографии наноструктур Ф.Ф. Климашин, У. Ратайски, К. Вюстефельд, Д. Рафая, Ф. Клемм, У. Мюле, М. Мотыленко, И.В. Блинков, А.О. Волхонский Структуро- и фазообразование при формировании многослойных наноструктурных покрытий TiN/AlN, их термическая стабильность А.М. Мурзакаев, О.Р. Тимошенкова, О.Д. Линников, И.В. Родина, А.П. Тютюнник Просвечивающая растровая электронная микроскопия в исследованиях нанопорошков магнетита (Fe3O4) при сорбции шестивалентного хрома из водного раствора А.М. Мурзакаев, О.Р. Тимошенкова, О.М. Саматов, И.В. Бекетов, А.И. Медведев Просвечивающая растровая электронная микроскопия в исследованиях нанопорошков ZnS Д.А. Павлов, Н.В. Малехонова,, Н.В. Байдусь, А.И. Бобров, Е.И. Волкова Исследование структурных особенностей сверхрешетки AlGaAs/GaAs методом ПЭМ с применением аналитических методов обработки ПЭМ снимков М.Ю. Пресняков, В.С. Ивашинин, А.С. Орехов, А.Л. Васильев, П.В. Лебедев-Степанов, М.В. Алфимов, С.П. Молчанов, Г.А. Юрасик, А.Я. Вуль Исследование пленок детонационных наноалмазов методом РЭМ М.Ю. Пресняков, А.И. Попов ПРЭМ исследования влияния термообработки на структуру пленок танталсодержащих нанокомпозитов с кремний – углеродной матрицей А.С. Самардак, М.В. Анисимова, А.В. Огнев, Л.А. Чеботкевич Spot-нанолитография как эффективный метод создания сложных наноструктур на основе растрового электронного микроскопа А.Ю. Чуфаров, И.В. Лужкова, А.Н. Ермаков, И.Г. Григоров, А.М. Мурзакаев, Ю.Г. Зайнулин Изучение радиально-слоевых композиций TiN – Ni и VN - Ni методами зондовой и высокоразрешающей просвечивающей электронной микроскопии А.Ю. Чуфаров, Н.А. Форостяная, А.Н. Ермаков, И.Г. Григоров, А.М. Мурзакаев, Л.Н. Маскаева, В.Ф. Марков, Ю.Г. Зайнулин Изучение фазообразования и микроструктуры нанокристаллических частиц CdS, модифицированных в водном растворе соли свинца методами просвечивающей микроскопии высокого разрешения 4 июня, вторник Вечер 17.30 – 19.00 Секции II. Растровая электронная микроскопия и ионная микроскопия Н.Н. Амрастанов, А.Н. Поляков, М.А. Степович Математическое моделирование многомерной диффузии экситонов, возбуждаемых зондом растрового электронного микроскопа в широкозонных полупроводниковых материалах В.В. Артемов, А.С. Лавриков, И.Ю. Грецкая Структура и эмиссионные свойства стержневидных кристаллов оксида цинка П.С. Вергелес, Е.Б. Якимов Влияние каналов, повышающих вероятность переноса неравновесных носителей заряда в GaN, на результаты измерений методом наведенного тока и катодолюминесценции Р.Л. Волков, Н.И. Боргардт, В.Н. Кукин Применение фокусированного ионного пучка для препарирования тонких фольг из частиц карбида бора в углеситалле Ю.Е. Гагарин, Н.Н. Михеев, Н.А. Никифорова, А.Н. Поляков, М.А. Степович Использование конфлюентного анализа в катодолюминесцентной микроскопии для идентификации диффузионной длины неосновных носителей заряда И.В. Гасенкова, И.М. Андрухович Контроль РЭМ в создании микроструктур сенсоров потока плазмы И.В. Гасенкова, Е.В. Остапенко, Н.И. Мазуренко, И.М. Андрухович Исследование модифицированной поверхности анодного оксида алюминия методами растровой электронной микроскопии А.В. Говорков, А.Я. Поляков, Н.Б. Смирнов, В.Н. Соколов, Е.Б. Якимов, Dae-Woo Jeon, In-Hwan Lee Свойства GaN структур с наностолбиками, приготовленных сухим травлением эпитаксиальных плёнок, выращенных методом MOCVD с использованием техники MELO Ю.А. Гороховатский, А.Г. Канарейкин, В.П. Пронин, Д.Э. Темнов Исследование структуры и состава пленок ПЭВД методом растровой электронной микроскопии А.В. Гостев, Е.Н. Евстафьева, Э.И. Рау, А.А. Татаринцев Возможные причины противоречий в определении некоторых параметров зарядки диэлектрических мишеней Б.Н. Грудин, Е.Л. Кулешов, Е.В. Пустовалов, Н.А. Смольянинов, С.В. Полищук, Т.А. Механцева Моделирование РЭМ-изображений с фрактальными свойствами Б.Н. Грудин, В.С. Плотников, С.В. Полищук, Е.Б. Модин, А.В. Кирилов, С.В. Должиков Визуализация микроструктур аморфных пленок CoNiP на РЭМизображениях С.А. Гусев, Р.В. Горев, Е.В. Скороходов Формирование магнитных структур с применением остро фокусированных ионных пучков К.М. Девяткова, Л.И. Девяткова, В.Б. Тверской Исследование в РЭМ натуральных дефектов в монокристаллах KY3F10 : Er3 , определяющих их люминесцентные свойства С.А. Дицман, С.В. Зайцев, А.Е. Лукьянов, Э.И. Рау Выражения для основных характеристик обратнорассеянных электронов В.Г. Еременко, П.С. Вергелес Протяженные дефекты в плоскости скольжения дислокации в кремнии: влияние условий их генерации на электрическую активность О.М. Жигалина, А.Н. Кускова, Д.Н. Хмеленин, В.В. Артемов, Sh. Naritsuka, T. Maruyama, В.И. Михайлов, В.М. Каневский Cтруктура слоев GaN-SiO2-GaN-сапфир, выращенных методом малоугловой направленной молекулярно-лучевой эпитаксии А.И. Ильин, О.В. Трофимов Переполяризация танталата лития в РЭМ облучением суб -100нм областей А.В. Кириллов, Е.Б. Модин, Е.В. Пустовалов, О.В. Войтенко, В.С. Плотников Фокусированный ионный пучок как инструмент формирования наноструктур В.А. Ковальский, П.С. Вергелес, М.В. Дорохин, Е.И. Малышева, А.В. Здоровейщев, Е.Б. Якимов Исследование гетероструктур (GaMn)As/(GaIn)As методом наведенного тока в растровом электронном микроскопе Л.С. Коханчик, Т.Р. Волк, С.М. Шандаров Запись доменов электронным лучом на Y-срезе в монокристаллах LiNbO30,5%Ti и в оптических волноводах Ti:LiNbO3 Ю.В. Ларионов Мониторинг диаметра пучка как средство оценки прецизионности измерительного РЭМ Ю.В. Ларионов, Ю.А. Новиков Аттестация тест-объектов на растровых электронных микроскопах Ю.В. Ларионов, Ю.А. Новиков, Ю.В. Озерин Время жизни рельефных тест-объектов в растровом электронном микроскопе В.Л. Миронов, Е.В. Скороходов, О.Л. Ермолаева Магнитные состояния в геометрически фрустрированных массивах ферромагнитных наночастиц на гексагональной решетке В.И. Орлов, О.В. Феклисова, Е..Б. Якимов Влияние загрязнения при деформации на рекомбинационную активность протяженных дефектов в монокристаллическом кремнии В.И. Орлов, Е.Б. Якимов Характеризация эффективности солнечных элементов методами LBIC и EBIC В.Н. Павлов, В.Я. Панченко, М.А. Поликарпов, А.А Свинцов, Е.Б. Якимов Моделирование тока, индуцированного бета-излучением из Ni63 Е.В. Пустовалов, О.В. Войтенко, Е.Б. Модин, А.В. Кириллов, Б.Н. Грудин, В.С. Плотников Формирование апертуры в оптоволокне фокусированным ионным пучком М.В. Рыжова, Е.Е. Якимов, А.Н. Редькин Получение тонких поликристаллических плёнок MgO методом газофазного синтеза и их характеризация методами РЭМ Е.В. Серегина, М.А. Степович, А.М. Макаренков Исследование результатов стохастических процессов диффузии неосновных носителей заряда в полупроводниковых материалах методами математического моделирования О.Б. Щербина, Л.С. Коханчик, Н.В. Сидоров, M.Н. Палатников, Формирование сегнетоэлектрических доменов в модифицированных VTE кристаллах танталата лития методом электронно-лучевого облучения Е.Б. Якимов, В.И. Орлов Наблюдение дефектов солнечных элементов методами ЭЛ и LBIC 4 июня, вторник Вечер 17.30 – 19.00 Секция IV. Аналитические методы в растровой электронной микроскопии Н.А. Аладьев Прогнозирование диэлектрических свойств фосфатных цементов по результатам исследований методами РЭМ-РМА А.И. Бобров, Е.Д. Павлова, А.В. Кудрин, Н.В. Малехонова Исследование ферромагнитных включений в слоях GaMnSb А.В. Боряков, Д.Е. Николичев, В.Г. Шенгуров, Д.В. Шенгуров Локальный состав приборных слоев Si/КНИ, выращенных методом сублимационной молекулярно-лучевой эпитаксии Д.А. Замятин, Ю.В. Щапова, С.Л. Вотяков, А.А. Краснобаев Структурно-химическая неоднородность и эффекты гидратации в цирконах лептинитов по данным электронно-зондового микроанализа А.Н. Малышко, М.И. Маркевич, А.М. Чапланов, Е.Н. Щербакова Изменение элементного и фазового состава тонкопленочных систем металл-кремний при стационарном отжиге в вакууме и атмосфере аргона Н.Н. Михеев, Е.В. Широкова, М.А. Степович Решение прямой задачи количественного РСМА для бинарных сплавов известного состава В.В. Мокрушин, И.А. Царева, М.В. Царев, Е.В. Забавин, Р.М. Баикин Применение сканирующей электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа для характеризации состояния поверхности металлического ванадия В.И. Николайчик, Л.А. Клинкова Анализ анодного и катодного продуктов электролиза систем Y-Ba-Cu-O и Y-Ba-Cu-K-O В.И. Николайчик, Б.П. Соболев, М.А. Запорожец, А.С. Авилов Исследование тисонитовых фаз в системе Er-Ca-F Д.Е. Николичев, А.В. Боряков, М.В. Дорохин, С.И. Суродин Состав структур спиновых светоизлучающих диодов на основе GaMnAs М.Н. Палатников, С.М. Маслобоева, И.В. Бирюкова, О.В. Макарова, Н.В. Сидоров, М.В. Заморянская, Т.Б. Попова Сравнительное исследование однородности кристаллов LiNbO3:Mg, выращенных из шихты различного генезиса Е.В. Широкова, H.-J. Fitting Рентгеноспектральный микроанализ структуры Al-SiO2-Si 5 июня, среда День 15.00 – 16.00 Секция III. Сканирующая зондовая микроскопия С.О. Абетковская, С.А. Чижик, Т.В. Лактюшина, А.Н. Лактюшин, О.В. Жилинский Выбор зондов для динамической полуконтактной атомно-силовой микроскопии О.А. Агеев, В.А. Смирнов, Ю.Ф. Блинов, М.В. Рубашкина Исследование вертикально ориентированных углеродных нанотрубок методом СТМ О.А. Агеев, В.А. Смирнов, В.И. Авилов Формирование наноразмерных мемристорных структур методом локального анодного окисления тонкой пленки титана П.А. Алексеев, Е.В. Гущина, М.С. Дунаевский, А.Н. Титков Исследование поведения зарядов в нанотонких слоях LaScO3 методом Кельвин-зонд микроскопии А.А. Антипов, С.М. Аракелян, С.В. Кутровская, А.О. Кучерик Применение сканирующей зондовой микроскопии для оценки проводимости металлических микроконтаков И.Б. Баньковская, К.Э. Пугачёв, Д.В. Коловертнов Влияние состава и условий термообработки на фазовый состав и морфологию поверхности композитов на основе системы борид циркония – нитрид кремния Л.В. Баран Электросиловая микроскопия пленок хром-фуллерит-хром С.В. Безукладова, Х.Х. Валиев, Ю.Н. Карнет , В.Ю. Науменко, Н.С. Снегирева, Ю.Г. Яновский Атомно – силовая микроскопия коллоидного раствора наночастиц сложного оксида железа Н.В. Белугина, Р.В. Гайнутдинов, А.Л. Толстихина, И.Ф. Кашевич, В.Н. Шут, С.Е. Мозжаров Исследование доменной структуры слоистых кристаллов ТGS:Cr методами АСМ и НЖК С.А. Билоконь Влияние электрического заряда, накапливаемого на кремниевом зонде АСМ на надежность и воспроизводимость результатов исследования микрогеометрии поверхностей диэлектриков Б.А. Буданов, Ф.И. Далидчик Неупругое резонансное многоцентровое туннелирование И.О. Волков, Л.В. Филимонова, А.А. Анисимов, А.А. Бурмистров, О.В. Синицына, И.В. Яминский, Л.И. Макарова, Б.Г. Завин, Е.М. Белавцева Исследование структуры силоксан-уретановых блок-сополимеров методами СЭМ и АСМ Э.М. Годжаев, А.М. Назаров, Х.Р. Ахмедова, Д.М. Кафарова, Л.П. Алиев Исследования микрорельефа поверхности атомно-силовым микроскопом композитов полиэтилена с добавками TlInS2 (Se2) Г.Н. Губанова, Т.Е. Суханова, М.Э. Вылегжанина, А.Я. Волков, Е.В. Кручинина, С.В. Кононова Морфология и структура нанокомпозитов на основе термостойкого полиамидоимида и фуллерена С60 П.А. Дементьев, М.С. Дунаевский, А.Н. Алешин, А.Н. Титков Исследование кинетики зарядов в органических полупроводниковых структурах на основе композитов полимер–неорганические наночастицы Т.П. Каминская, В.В. Коровушкин, М.Н. Шипко, А.В. Комшина, М.А. Степович Изучение влияния слабых импульсных магнитных полей на структуру поверхности титановых сплавов Т.П. Каминская, М.Н. Шипко, М.А. Степович Атомная силовая микроскопия сплавов Fe3(SiAl), подвергнутых магнитоимпульсной обработке В.М. Каневской, А.В. Буташин, А.Э. Муслимов, А.Н. Дерябин, В.А. Павлов, В.Е. Асадчиков Атомно-силовая микроскопия в изучении структурного вклада в шероховатость сверхгладкой кристаллической поверхности В.М. Каневский, А.Э. Муслимов, А.В. Буташин, А.Н. Дерябин, В.И. Михайлов Атомно-силовая микроскопия в разработке технологии сапфировых подложек с регулярным микрорельефом на рабочей поверхности Д.Д. Карамов, В.М. Корнилов, А.Н. Лачинов, А.Ф. Галиев Атомно-силовая микроскопия субмикронных пленок полидифениленфталида А.А. Кирсанкин, А.К. Гатин, М.В. Гришин, Б.Р. Шуб Адсорбционные свойства наноструктурированных пленок оксидов олова и цинка Ю.И. Коваленко, И.А. Рева, В.А. Андриенко, И.В. Яценко, Ю.Ю. Бондаренко, М.А. Бондаренко, Е.В. Скорина Особенности строения оксидных покрытий на оптических диэлектриках после их электронно-лучевой микрообработки Е.П. Криничная, О.П. Иванова, А.С. Голубь, Н.Д. Лененко, Т.С. Журавлева Исследование структуры поверхности и фотоэлектрических свойств пленок нанокристаллического интеркалированного дисульфида молибдена Е.П. Криничная, О.П. Иванова, С.А. Завьялов, И.А. Мисуркин, С.В. Титов, Е.И. Григорьев, Т.С. Журавлева Анализ морфологии поверхности модифицированных тонких ППК пленок, полученных методом газофазной поверхностной полимеризации А.Н. Кускова, Р.В. Гайнутдинов, О.М. Жигалина, В.М. Мухортов Влияние толщины на доменную структуру пленок Ba0.8Sr0.2TiO3 на подложках MgO С.В. Кутровская, А.О. Кучерик, С.И. Леесмент, Д.П Троицкий Управление качеством АСМ-измерений с использованием методов фрактальной геометрии Р. В. Лапшин Наблюдение на СТМ коробчатой наноструктуры из графена, возникшей при механическом скалывании пиролитического графита А.И. Машин, А.В. Нежданов, Д.А. Антонов, Д.О. Филатов Структура и свойства кремниевых монослоёв на поверхности высокоориентированного пиролитического графита О.А. Мерецкая, Р.Н. Жуков, А.С. Быков, Д.А. Киселев, М.Д. Малинкович, Ю.Н. Пархоменко, V.V. Shvartsman, D.C. Lupascu Исследование доменного состояния в сегнетоэлектрических пленках LiNbO3 методами сканирующей зондовой микроскопии В.Л. Миронов, О.Л. Ермолаева, Е.В. Скороходов Исследования особенностей перемагничивания ферромагнитных нанопроволок методами магнитно-силовой микроскопии И.А. Морозов, В.Н. Солодько Атомно-силовая микроскопия областей трещин каучуковых вулканизатов А.В. Новак Использование атомно-силовой микроскопии для изучения морфологии характерных типов пленок кремния Г.И. Овчинникова, Н.В. Белугина, Р.В. Гайнутдинов, А.Л. Толстихина Температурная динамика доменной структуры по данным АСМ и микроволновая диэлектрическая проницаемость кристалла ТGS В.В. Привезенцев, Д.В. Петров, В.Н. Соколов, О.В. Разгулина Исследование характеристик системы нанопор в структуре SiO2/Si, полученных методом имплантации ионами цинка А.А. Романец, В.Р. Новак Метод выделения границ локальных объектов на СЗМ изображениях поверхности С.А. Чижик, Т.А. Кузнецова, А.Л. Худолей Применение атомно-силовой микроскопии для исследования отпечатков микротвёрдости И.И. Шакиров, С.А. Зиганшина, А.А. Бухараев, Д.А. Бизяев, Н.И. Нургазизов, Д.В. Лебедев Формирование наночастиц никеля в порах полиметилметакрилата Б.О. Щербин, М.Н. Халисов, И.А. Няпшаев, А.В. Анкудинов, А.В. Киюц, О.С. Лобода, А.А. Красилин, В.В. Гусаров Сила удара в полуконтактном режиме АСМ Ю.Г. Яновский, Х.Х. Валиев, О.Б. Юмашев, А.А. Тютюнников, М.Д. Беркова, Ю.Н. Карнет, Е.А. Никитина, Н.А. Семенов, П.Е. Семенов Сканирующая зондовая микроскопия агломератов наночастиц шунгита N.I. Uzhegova, A.L. Svistkov, B. Lauke, G. Heinrich Influence of capillary effects on atomic force microscopy measurements at the nanoscale 6 июня, четверг День 11.00 – 13.00 Секция VII. Применение сканирующей электронной, зондовой и конфокальной лазерной сканирующей микроскопии в биологии, медицине и экологии H.R. Torgomyan, N.L. Hovnanyan, A.H. Trchunian, K.O. Hovnanyan Scanning and Transmission Electronmicroscopic visualization of Structural Changes of E.coli after the the Low-Intensity Electromagnetic Irradiation М.А. Архипова, А.А. Козлик, М.П. Округин, А.С. Улько Растровая электронная микроскопия эритроцитов периферической крови крыс при коррекции дигдрокверцетином экспериментального алкоголизма А.Н. Асташонок, Л.В. Рубаник, Н.Н. Полещук Характеристика ультрамалых частиц формирующихся внутри ретикулярных телец Chlamydia trachomatis (серовар D) А.И. Байбеков, И.М. Байбеков Электронная микроскопия жировой ткани, используемой для липофилинга при лазерном воздействии И.М. Байбеков, А.Х. Бутаев, Ф.Ф. Хашимов, А.И. Байбеков Форма эритроцитов и ультраструктура клеток и микроциркуляция при патологии и их коррекции лазерным облучением Т.Г. Бархина, С.А. Гуменюк, М.Ю. Гущин, В.П. Черников Сканирующая электронная микроскопия слизистых оболочек носа и бронхов при бронхиальной астме в сочетании с внебольничной пневмонией С.В. Безукладова, Х.Х. Валиев, Ю.Н. Карнет, В.Ю. Науменко, Н.С. Снегирева, Ю.Г. Яновский Атомно – силовая микроскопия коллоидного раствора наночастиц сложного оксида железа И.О. Боголюбова, Ф.М. Баталова, Г.Н. Почукалина, А.М. Киселёв, И.С. Степанова, Д.С. Боголюбов Применение электронной и конфокальной лазерной сканирующей микроскопии в исследованиях распределения ядерных белков в ооцитах и эмбрионах С.А. Бугоркова, П.С. Ерохин, С.Н. Клюева Характеристика поверхностной архитектоники мембран эритроцитов крови у иммунизированных лабораторных мышей В.И. Бумейстер, А.В. Слисаренко Электронномикроскопическое исследование травмированной большеберцовой кости молодых крыс в условиях клеточной дегидратации организма А.Х. Бутаев, Б.А. Саидханов, И.М. Байбеков Сканирующая электронная микроскопия мембраны и сеток плазмафильтра при плазмаферезе и лазерном облучении О.А. Волох, Д.В. Уткин, О.С. Кузнецов, Е.М. Кузнецова Изучение феномена образования биопленки у возбудителя туляремии Н.А. Забиняков Оценка потенциала поверхности и механических свойств эритроцитов больных пневмонией методами СЗМ С.В. Зиновьев, В.С. Козлова, О.А. Медведева, О.А. Чуева, С.С. Целуйко Растровая электронная микроскопия продуктов кристаллизации гипотонических смывов носовой и ротовой полостей человека М.Н. Киреев, П.С. Ерохин, Д.В. Уткин, О.С. Кузнецов, Н.П. Коннов Комплекс методов атомно-силовой микроскопии для характеристики нативного и модифицированного антителами хитозана С.Н. Клюева, Т.Н. Щуковская, П.С. Ерохин, Д.В. Уткин Оценка влияния биогенного амина серотонина на морфологию туляремийного микроба методом атомно-силовой микроскопии О.А. Коновалова, Г.Ю. Яковлева, О.В. Стеряков Исследование методом сканирующей зондовой микроскопии морфометрических и физических показателей бактерий E.сoli при ее взаимодействии с 2,4,6- тринитротолуолом С.В. Кулько Изучение упругостных и адгезионных свойств мембран гемоцитов Живородки речной методом АСМ Т.Х. Кумахова, А.С. Рябченко, А.В. Бабоша Особенности микрорельефа поверхности листа Malus Mill. (rosaceae) Т.Х. Кумахова, А.В. Бабоша, А.С. Рябченко Исследование локализации кутикулы эпидермы листа яблони методом конфокальной лазерной сканирующей микроскопии О.Г. Леонова, Б.П. Караджян, Ю.Л. Иванова, Ю.Ф. Ивлев, В.И. Попенко Структурно – динамическая организация хроматина и пространственная организация соматического ядра инфузории Bursaria truncatella А.И. Логоша Электронномикроскопическое исследование регенерата большеберцовой кости зрелых крыс в условиях внеклеточного обезвоживания организма М.Н. Огиенко Изменения показателей кальция и фосфора в участках регенерата большеберцовой кости крысы старого возраста в условиях тяжелой степени общей дегидратации Л.А. Павлова, Л.Л. Ткаченко Изучение створок диатомовых водорослей из озер Байкал (Россия) и Хубсугул (Монголия) на микроанализаторе JXA8200 Т.А. Пигалева Исследование целомоцитов Eisenia rosea при помощи методов атомносиловой микроскопии В.А. Раскатов Изучение супрамолекулярных образований гумусовых веществ методом электронной микроскопии Е.А. Сладкова Сравнительная оценка морфофизиологических параметров лимфоцитов больных ОЛЛ и ОМЛ методом АСМ Ю.В. Смирнова, А.В. Лавлинский, В.Н. Попов Сравнительное изучение агробактериальной трансформации Pleurotus ostreatus с помощью метода сканирующей электронной микроскопии с применением различных методик Д.В. Уткин, О.С. Кузнецов, П.С. Ерохин, Н.А. Осина, С.А. Щербакова Применение атомно-силовой микроскопии в лабораторной диагностике особо опасных инфекций Ф.Ф. Хашимов, И.М. Байбеков Ультраструктура кожи при постугревых келоидных рубцах и их комплексном лечении с использованием лазерных технологий З.Н. Цымбалюк Особенности скульптуры пыльцевых зерен рода Melampyrum L. (Orobanchaceae Vent.) К.А. Шибзухова, А.С. Рябченко Использование методов сканирующей электронной микроскопии для исследований поверхности листьев Alnus glutinosa и Alnus incana (Betulaceae) О.С. Ярмоленко, О.А. Приходько Перспективы исследования стенки сердца с помощью растровой электронной микроскопии 6 июня, четверг День 15.30 – 18.00 Секция V. Применение сканирующей электронной и зондовой микроскопии в физике, материаловедении, микроэлектронике М.Ш. Акчурин, В.Г. Галстян, Р.В. Гайнутдинов, Р.М. Закалюкин., Е.А. Степанцов Строение и свойства диокисида циркония А.Г. Белецкий, О.В. Синицына, И.В. Яминский, И.Г. Григорьева, А.А. Антонов Влияние пластической деформации на микроструктуру высокосовершенного пиролитического графита Д.С. Белов, И.В.Блинков, А.О. Волхонский, Н.Ю. Табачкова, А.В. Ершова Структурные исследования нанокристаллических покрытий Ti-N-Cu Н.А. Белов, Т.И. Муравьева, И.И. Курбаткин, А.Н. Алабин, Е.Г. Котова, О.О. Столярова Структурное строение и трибологические свойства новых антифрикционных сплавов на основе алюминия А.Н. Броздниченко, Д.М. Долгинцев, Р.А. Кастро, С.В. Сенкевич Электронная растровая и атомно-силовая микроскопия алмазоподобных пленок, выращенных импульсным ионно-плазменным методом; структура и диэлектрические свойства Г.С. Бурханов, В.М. Кириллова, В.В. Сдобырев, В.А. Дементьев О форме карбидных включений в литом вольфраме А.М. Возгорьков, В.М. Иевлев, С.В. Канныкин, C.Б. Кущев, С.А. Солдатенко Фазовый состав, структура и морфология гетероструктур, формирующихся при оксидировании пленок Ti на (111)Si А.М. Возгорьков, С.А. Солдатенко, А.А. Синельников, Т.Л. Тураева Фазовый состав, структура и морфология пленок оксидов Zr синтезированных методом импульсной фотонной обработки В.М. Грабов, В.А. Комаров, Е.В. Константинов, Е.В. Демидов Гальваномагнитные эффекты в нитях висмута И.В. Емельянова, С.Э. Малютенкова Контроль качества электронных компонентов с применением электронноионного (двухлучевого) растрового электронного микроскопа Л.П. Ефименко, В.Г. Барышников, Н.В. Пламадяла Исследование монофазного титаната висмута Л.П. Ефименко, О.В. Круглова, В.Г. Барышников, Н.В. Пламадяла Исследование гексаферрита бария синтезированного в расплавах неорганических солей С.Ю. Зубков, А.В. Боряков, А.В. Ершов, Д.Е. Николичев, С.И. Суродин. Состав многослойных нанопериодических структур на основе ZrO2 и SiO П.И. Игнатенко, Н.П. Иваницын Феноменологическое рассмотрение зародышеобразования в наноструктурных пленках боридов, нитридов и силицидов М.И. Карпов, В.П. Коржов, В.И. Внуков, Д.В. Прохоров, Т.С. Строганова, И.С. Желтякова Исследование микроструктуры жаропрочного сплава Nb-Si с использованием РЭМ В.М. Кийко, Н.И. Новохатская Волокна заданной двухуровневой структуры, получаемые методом внутренней кристаллизации из оксидов алюминия и иттрия В.П. Коржов, М.И. Карпов РЭМ жаропрочных материалов со слоистой структурой на основе интерметаллических соединений ниобия и титана с алюминием М.С. Кривенков, А.И. Комяк, А.А. Новакова Исследование свойств полититаната калия, интеркалированного железом Н.О. Кривулин, Д.А. Павлов, П.А. Шиляев Механизм формирования островков при молекулярно-лучевом осаждении кремния на сапфир В.И. Кулинич, Е.И. Бубликов, В.В. Коломиец, Т.С. Беликова РЭМ исследования композиционных проводящих пленок Е.А. Ляпунова, О.Б. Наймарк, С.В. Уваров Структурные особенности металлических мишеней, подвергнутых ударноволновому нагружению К.Ю. Нагулин, О.А. Коновалова, А.Х. Гильмутдинов Электростатическое осаждение аэрозоля – эффективный метод отбора проб при исследовании фракционного состава наноструктур А.Я. Нейман, Н.Н. Пестерева, А.М. Мурзакаев, Д.К. Кузнецов, В.Ю. Колосов, О.Р. Тимошенкова Спонтанные и индуцированные полем явления переноса на эвтектических оксидных интерфейсах: РЭМ-исследования И.Р. Нуриев, А.М. Назаров, Р.М. Садыгов, Э.И. Мирзоев Структура и морфология поверхности эпитаксиальных пленок Pb1-xSnxTe А.С. Орехов, В.В. Клечковская, Т.С. Камилов Дифракция обратно рассеянных электронов в исследовании структуры тонких кристаллов высшего силицида марганца А.Н. Петлицкий, А.С. Турцевич, С.В. Шведов, В.В. Цыбульский, Ф.Ф. Комаров, Л.А. Власукова, Р.М. Кривошеев Структура и состав бумаги, изготовленной из углеродных нанотрубок М.В. Рыжова, Е.Е. Якимов, А.Н. Редькин Вторичное образование нитеобразных структур на поверхности наностержней ZnMgO при отжиге на воздухе Д.М. Седловец, А.Н. Редькин, И.И. Ходос, М.А. Князев, В.И. Корепанов Исследование структуры двумерных углеродсодержащих пленок методами электронной микроскопии С.В. Сенкевич, И.П. Пронин, Е.Ю. Каптелов, В.П. Пронин Диэлектрические свойства наногетероструктур PZT-PbO Н.В. Сидоров, М.Н. Палатников, Н.А. Теплякова, Л.А. Алёшина, Н.А. Евдокимова, Е. П. Феклистова Исследование структуры керамических твердых растворов LixNa1-xTa0.1Nb0.9O3 методами рентгеноструктурного анализа и спектроскопии комбинационного рассеяния света А.В. Смагина, В.В. Коровушкин, М.Н. Шипко, М.А. Степович Изучение особенностей магнитоимпульсного упрочнения магнетита Fe3O4 Л.В. Соколов, Н.М. Парфенов, Н.А. Агафонова Исследование влияния особенностей способа прямого сращивания кремниевых пластин на конструктивно-технологическую оптимизацию МЭМС-КНИМТ тензопреобразователей Е.А. Тарасов, Н.И. Синицын, Н.П. Абаньшин, Б.И. Горфинкель Исследование геометрических параметров катодно-сеточных матриц средствами растровой электронной микроскопии Д.А. Татарский, В.В. Рогов, А.Ю. Климов, И.М. Нефёдов, М.В. Сапожников, Б.А. Грибков, С.А. Гусев, А.А. Фраерман О влиянии поликристаллической структуры на магнитные свойства ферромагнитных пленок и частиц на их основе О.Р. Тимошенкова, А.И. Медведев, А.М. Мурзакаев, О.М. Саматов Исследование возможности получения наноразмерного люминофора методом лазерного испарения мишени А.Н. Федорец, А.Н. Котвицкий, О.В. Войтенко, Е.Б. Модин, Е.В. Пустовалов, В.С. Плотников, Б.Н. Грудин Исследования структуры аморфных лент 2НСР и 10НСР при нагреве 6 июня, четверг День 15.30 – 18.00 Секция VI. Применение сканирующей электронной и зондовой микроскопии в нанотехнологии, химии и геологии Э.М. Акберова, В.И. Васильева, А.А. Цхай, М.Д. Малыхин Изменение структурных и транспортных свойств ионообменных мембран после электродиализа природных вод бассейна Аральского региона Н.М. Антонова Морфологические особенности наночастиц алюминия, экранированных полимерной оболочкой Na-КМЦ А.Д. Баринов, А.И. Попов , М.Л. Шупегин Влияние концентрации металла на характеристики плёнок алмазоподобных кремний-углеродных нанокомпозитов Е.К. Белоногов, Н.В. Соцкая, Т.Л. Тураева, Н.Н. Дорошев Морфология фронта роста нанопористых покрытий с упорядоченной и неупорядоченной открытой пористостью Н.Г. Березкина, И.О. Лейпунский, П.А. Пшеченков, Е.С. Афанасенкова, Н.С. Дымникова, В.Н. Галашина Исследование распределения серебра по поверхности волокон льняной ткани Д.Л. Загорский, С.Н. Сурьянов, В.В. Коротков, С.А. Бедин, А.А. Егупова Структурные и микроскопические исследования металлических микро- и нанопроволок, выращенных выращенных методом матричного синтеза Л.В. Зайцева, О.С. Самылина Изучение роли внеклеточного полимерного вещества (EPS) в процессе образования доломита при посредничестве цианобактерий методами СЭМ и РСМА М.А. Запорожец, А.Я. Шаляпина, Э.М. Хохлов, В.Г. Плотниченко, Е.Ю. Буслаева, С.П. Губин, А.С. Авилов Электронно-микроскопическое исследование композиционных материалов на основе наночастиц оксида цинка и графена М.А. Запорожец, А.Я. Шаляпина, Э.М. Хохлов, В.Г. Плотниченко, Е.Ю. Буслаева, С.П. Губин, А.С. Авилов Наночастицы оксида железа на поверхности графена А.Г. Иванова, М.Ю. Пресняков, В.В. Роддатис, А.Л. Васильев Электронно-микроскопическое исследование Fe-содержащих породообразующих силикатов переходной зоны и нижней мантии Земли А.И. Иванова, Р.М. Гречишкин, В.А Фенин Растровая микроскопия и микроанализ минералов в осадочных породах А.В. Кнотько, В.В. Судьин, А.В. Гаршев, В.И. Путляев Комплексная обработка поверхности базальтового стекловолокна как путь управления микроструктурой армированных им стеклофиброцементных композитов О.В. Кононенко, В.Н. Матвеев, А.И. Ильин, В.И. Левашов, В.Т. Волков Изготовление и свойства полевого транзистора на основе гибрида графена и углеродных нанотрубок Е.А. Корнеева, И.Н. Кузьменко, Ю.Р. Колобов, Г.В. Храмов, В.В. Ракитянский Исследование эволюции структуры титана ВТ1-0 в различных структурных состояниях под действием циклических напряжений В.А. Кузьмин Электронно-микроскопические исследования нефтенасыщенных пород И.И. Курбаткин, Т.И. Муравьева, Е.А. Левашов, А.Е Кудряшов Исследования структуры и свойств многофункционального антифрикционного покрытия А.А. Лизунова, М.Н. Уразов, И.А. Волков, В.В. Иванов, А.С. Кайгородов, И.В. Бекетов Исследование структуры хромовых покрытий, усиленных углеродным наноматериалом, методом растровой электронной микроскопии В.Н. Матвеев, В.И. Левашов, О.В. Кононенко, И.И. Ходос, Я.Б. Волкова, В.Т. Волков Синтез гибрида графена и углеродных нанотрубок методом однократного напуска ацетилена А.М. Мурзакаев, И.В. Бекетов, А.И. Медведев, А.В. Багазеев, О.Р. Тимошенкова, Е.И. Азаркевич Получение наночастиц оксидов алюминия и железа в канале коаксиального плазменного ускорителя А.М. Мурзакаев, А.И. Медведев, В.А. Вальцифер, А.В. Багазеев, О.Р. Тимошенкова, Е.А. Лебедева, И.Л. Тутубалина, И.В. Бекетов Особенности структуры капсулированных алюминевых нанопорошков Л.А. Павлова, Н.И. Акулов Особенности исследования микрометеоритов из Байкала в режиме электронного микроскопа на микроанализаторе JXA8200 В.А. Попов, А.С. Просвиряков, Т.Б. Сагалова, И.И. Ходос Исследование структуры композита с никелевой матрицей и алмазными упрочняющими наночастицами В.А. Попов, А.С. Просвиряков, Б.Б. Чернов, М.Н. Ковальчук Исследование структуры композиционных электрохимических покрытий, упрочненных алмазными наночастицами М.А. Пугачевский, В.С. Комарова Электронно-микроскопическая диагностика платины в графите из углеродистых сланцев восточной части Буреинского массива В.В. Рогов, А.Н. Курчатова Изучение коррозии в мерзлых грунтах методами растровой электронной микроскопии Н.В. Садовская, А.Н. Касаткин, С.А. Хатипов Электронно-микроскопическое исследование морфологии травленого политетрафторэтилена: спеченного и радиационно-модифицированного П.П. Сафронов, Н.В. Моисеенко Редкая находка самородного золота в рудах месторождения Пионер (Приамурье) В.Н. Соколов, О.В. Разгулина, Д.И. Юрковец, М.С. Чернов Метод получения объемных характеристик микроструктуры в РЭМ по сериям дефокусированных изображений и стереоизображениям В.Н. Соколов, Д.И. Юрковец, М.С. Чернов, О.В. Разгулина, Л.Г. Булыгина Количественный анализ микроструктуры горных пород комплексом РЭМ рентгеновский компьютерный томограф В.И. Суворов, А.И. Иванова, Р.М. Гречишкин Исследование структуры прессованного торфа, модифированного связующей добавкой О.Р. Тимошенкова, Е.Г. Калинина Исследование влияния порообразоватилей и полимерного модификатора на структуру пористых катодов Ю.Я. Томашпольский, В.М. Матюк, Н.В. Садовская Термостимулированные поверхностные сегрегационные процессы в ионных кристаллах: хлорид калия Ю.Я. Томашпольский, Н.В. Садовская, В.М. Матюк Поверхностная автосегрегация в ниобате кальция: ВРЭМ, РСМА, АСМ, ОЦМ С.Н. Холуйская, А. Г. Филатова, К.З. Гумаргалиева Структурные особенности гидрогеля, полученного каталитической полимеризацией 2-гидроксиэтил метакрилата (ГЭМА), по данным СЭМ С.М. Югай, Н.Ш. Ашуров, С.Ш. Шахабутдинов, С.Ш. Рашидова Структурные исследования нановолокон на основе ТАЦ полученные методом электроспининга
